1、“.....测试控制器。被测设备计算机下载测试代码并把它放入程序代码存储器位于被测设备计算机主板。然后启动电路，同时进行两个功能被测设备复位线保持有效段时间大约毫秒并且，驻存在程序码测试代码映射到地址在被测设备计算机内存空间该可擦写可编程只读存储器将不再被访问。苏醒后，从重置，通过执行地址指令代码再次启动被测设备电脑，但这个时候，代码不是启动串行装入程序代码......”。

2、“.....不论在被测设备计算机功能性如何，测试控制计算机始终保留了强制重置映射功能。因此，如果测试运行没有个单事件功能中断无论是被测设备计算机本身或测试控制器可以终止了测试，并允许执行后测试功能。如果发生，测试控制器强制重新启动到开机串行装入程序代码然后执行后测试功能。在被测设备任何测试，被测设备行使部分功能例如，寄存器操作或内部检查，或定时器操作在最高利用可能......”。

3、“.....如果此报告停止，测试控制器知道了，个发生。这种定期数据被称为遥测。如果被测设备遇到了个，不能中断功能例如，数据寄存器不匹配通过描述串口有发出个更多长篇报告，并继续进行测试。八讨论单粒子闭锁为什么超低功耗辐射容错设备不发生闭锁现象，主要原因是伏特工作电压低于闭锁发生需要额定电压。此外，所使用元件库还引进了重型双防护方案......”。

4、“.....电路工作在，和伏特是可以，伏特超低功耗辐射容错电路也是可以。在个实例中，个在非外延晶圆上制造伏电路不受测试限制影响。超低功耗辐射容错设备设计即使在考虑到伏特电路时，仍选择继续支付防护固定成本〜。但是，考虑到实用回偏电压，电压可以超过现在额定电压。单粒子翻转超低功耗辐射容错设备使用存储单元级结构是单粒子防护技术......”。

5、“.....预计在单粒子防护技术单元将完全不受存在内部存储单元本身影响。显然还有其他事情。超低功耗辐射容错此处所报告结果与超低功耗辐射容错无损压缩芯片获得些结果非常相似超低功耗辐射容错无损压缩芯片合成使用了与超低功耗辐射容错相同工具和程序库。在两个有效线性能量转移值，和时，超低功耗辐射容错无损压缩芯片，截面数据作为个频率函数......”。

6、“.....这两种情况下数据与线性模式拟合良好。在线性能量转移情况下，零拦截频率基本上发生在零断面点，这表明从组合逻辑可以获得所有这些被。线性能量转移时，频变组件是位于直流偏置组件上面大概是发生内部第二次翻转机制单粒子防护技术元件有效线性能量转移闸值排在第二位。超低功耗辐射容错设备使用方案是基于单粒子防护技术元件容错输入性质，此时多余输入数据是提供给单独存储节点......”。

7、“.....这样个防护上简单就不能产生翻转。因此，其他些翻转机制就要发生。单个粒子删除是把个放在逻辑流两个半部分上，逻辑流允许个产生个翻转。小心地把双重敏感节点单粒子防护技术元件分开，但组合逻辑路径自动布线要与双敏感节点足够接近。在这点上，超低功耗辐射容错理论解释是，在个有效线性能量转移个值中，能量集中点足够广泛......”。

8、“.....增加有效线性能量转移使这种效应涉及范围更广，由此产生了更大横截面。此外，第二个机制，开始约线性能量转移，收集足够多干扰，能够有效地翻转单粒子防护技术元件冗余存储节点倍数。在这微米程序库，节点分离是几微米。然而，因为它只需负责打破节点操作系统在伏特，具有与晶体管有效阈值约毫伏，这是可能效果得到遵守。如图所示另外个事实......”。

9、“.....表明元件本身已对翻转敏感。九结论利用微控制器作为测试工具，完成了对加固工艺超低功耗辐射容错技术单粒子效应敏感性详细比较。本文讨论了所用到测试方法并提出了种比较方法，通过采集数据比较工业技术与超低功耗辐射容错技术。超低功耗辐射容错设备有较高线性能量转移闸值并且始终不发生闭锁现象。除了在线性能量转移最高值时存储器测试，所有翻转粒子横截面曲线都比工业设备低个数量级。此外......”。