分析法这只介绍第种。常用的近似函数有高斯函数及柯西函数。实践中多选表中第三种搭配方案。表，搭配关系表，的关系方程的分离方法，写出两个以表中第三种方法为例，微观应力公式按谢乐公式可得似的得由令消去消去根据所选两级衍射线的衍射角算出，根据衍射线线形分析算出，再从公式求出此得到算过程较复杂，需通过计算机编程。三射线衍射线线形宽对应于选择反射区的宽度范围。选择反射区的大小和形状是由晶块的尺寸为干涉函数主峰底宽与以，选择反射区的大小与晶块的尺寸成反比。可以把晶胞当做个散射单元，将晶胞的原点做为散射中心。取中心为原点，其主峰就是倒易空间的个选择反射区。三维尺寸都很小的晶体对应的倒易阵点变为具有定体积的倒易体元，选择反射区的中心是严格满足布拉格定律的倒易阵点。反射球与选择反射区的任何部位相交都能产生衍射。衍射峰的底。如果物理宽化同时包括晶格畸变或晶块细化两种因素，首先应从中分离出晶格畴变加宽，然后进行微观应力与晶块尺寸的计算。晶块细化引起的宽化尺寸为微晶，能引起可观察的衍射线的宽化。原因是干涉函数的每个变显微畸变和晶块细化亦称亚晶细化微晶宽化等缺陷两类因素造起的。如果物理宽化仅由晶格畸变或晶块细化种因素造成的，则可从实测线形分离仪器宽化因素后得到的真实线形宽度直接计算微观应力与晶块尺寸。按有，当当这种作法虽然缺乏严格的数学证明，但明很易收敛。衍射线线形宽化的主要原因是仪器宽化和物理宽化，物理宽化又是由材料中的晶格畸变亦称点阵畸有种程度的分离时，适用图解法分离双线。，可将等分后从数学方法进行了使能被等分，可先将划分为元宽度，再以划分为。用分别表示各分割单元的对应强度图形中双线峰位的间距，并使它在和附近移动，找到使两线形满足上述条件的位置，就是准确的和位置，同时也就确定了两个峰的形状。图解法简单易行，但包含着定的任意性，在精确要求不高，特别是图形上线已加线形。首先确定出辐射的标准布拉格位置和，以和位置为和的峰顶，使两个线形很像，并且图中的两个阴影部份的面积相等，从而得到和。如果和的位置不能准确地确定，则可以由已知的值确定出是所形成的。线形。假定衍射线强度按波长的分布近似相同，强度比为，且或图形分离法图中的为辐射的叠由两个衍射峰叠合而成。所用辐射和衍射线布拉格角有关。要得到各个参数就必须将两者分离开来。和宽为。若双线分离度为，当衍射线峰形对称底宽相同时，衍射峰同侧边界相距也为。实测线形括吸收因子温度因子和洛伦兹能够反映试样物理宽化情况的线形，它是把各种因素校正后所得的曲线。二双线的分离主要有以下分离方法辐射合成的，且缠绕在起。辐射强度比约为。实验得到的衍射峰也是欠聚焦试样的吸收衍射仪的轴偏离和接受狭缝的宽度等。辐射是由波长非常接近的辐射合成的，实验得到的衍射峰是由两个衍射峰叠合而成。角因数的影响切随变化的因数都会影响衍射线的形状。主要包是很看重。在平常分析中近似函数图解法用的相对比较多。实测线形与真实线形它是由衍射仪扫描后得到的原始图形，影响他的因素如下实验条件的影响包括由于生的入射线具有似的定的发散度平板试样引起的的方法主要有有近似函数图解法傅立叶分析和方差分析法等方法。其中近似函数图解法的虽精确度不如傅立叶分析，但简便易行。由于在日常生产中注重研究晶粒尺寸和微观应力随各种工艺制度的变化规律，对于数据的大小不其中是线形的重心二衍射线线形分析基础线形分析的目的是从实测衍射峰中需要分析出物理宽化以及晶块细化和晶格畸变造成的宽化效应，从而可以测定晶粒尺寸和微观应力。线形分析射线宽化的主要原因，因此衍射线的半高宽即衍射线最大强度半处的宽度，其物理意义是表征微观残余应力大小。积分宽度等于衍射线的积分强度除以衍射峰强度即方差可由公式求出。射线的强度。积分背底背积三衍射线的宽度在衍射线最大强度的半处作平行背底的线段，用此线段长代表衍射线的宽度。另外由于材料的微观残余应力是产生衍射射线的强度。积分背底背积三衍射线的宽度在衍射线最大强度的半处作平行背底的线段，用此线段长代表衍射线的宽度。另外由于材料的微观残余应力是产生衍射线宽化的主要原因，因此衍射线的半高宽即衍射线最大强度半处的宽度，其物理意义是表征微观残余应力大小。积分宽度等于衍射线的积分强度除以衍射峰强度即方差可由公式求出。其中是线形的重心二衍射线线形分析基础线形分析的目的是从实测衍射峰中需要分析出物理宽化以及晶块细化和晶格畸变造成的宽化效应，从而可以测定晶粒尺寸和微观应力。线形分析的方法主要有有近似函数图解法傅立叶分析和方差分析法等方法。其中近似函数图解法的虽精确度不如傅立叶分析，但简便易行。由于在日常生产中注重研究晶粒尺寸和微观应力随各种工艺制度的变化规律，对于数据的大小不是很看重。在平常分析中近似函数图解法用的相对比较多。实测线形与真实线形它是由衍射仪扫描后得到的原始图形，影响他的因素如下实验条件的影响包括由于生的入射线具有似的定的发散度平板试样引起的欠聚焦试样的吸收衍射仪的轴偏离和接受狭缝的宽度等。辐射是由波长非常接近的辐射合成的，实验得到的衍射峰是由两个衍射峰叠合而成。角因数的影响切随变化的因数都会影响衍射线的形状。主要包括吸收因子温度因子和洛伦兹能够反映试样物理宽化情况的线形，它是把各种因素校正后所得的曲线。二双线的分离主要有以下分离方法辐射合成的，且缠绕在起。辐射强度比约为。实验得到的衍射峰也是由两个衍射峰叠合而成。所用辐射和衍射线布拉格角有关。要得到各个参数就必须将两者分离开来。和宽为。若双线分离度为，当衍射线峰形对称底宽相同时，衍射峰同侧边界相距也为。实测线形是所形成的。线形。假定衍射线强度按波长的分布近似相同，强度比为，且或图形分离法图中的为辐射的叠加线形。首先确定出辐射的标准布拉格位置和，以和位置为和的峰顶，使两个线形很像，并且图中的两个阴影部份的面积相等，从而得到和。如果和的位置不能准确地确定，则可以由已知的值确定出图形中双线峰位的间距，并使它在和附近移动，找到使两线形满足上述条件的位置，就是准确的和位置，同时也就确定了两个峰的形状。图解法简单易行，但包含着定的任意性，在精确要求不高，特别是图形上线已有种程度的分离时，适用图解法分离双线。，可将等分后从数学方法进行了使能被等分，可先将划分为元宽度，再以划分为。用分别表示各分割单元的对应强度。按有，当当这种作法虽然缺乏严格的数学证明，但明很易收敛。衍射线线形宽化的主要原因是仪器宽化和物理宽化，物理宽化又是由材料中的晶格畸变亦称点阵畸变显微畸变和晶块细化亦称亚晶细化微晶宽化等缺陷两类因素造起的。如果物理宽化仅由晶格畸变或晶块细化种因素造成的，则可从实测线形分离仪器宽化因素后得到的真实线形宽度直接计算微观应力与晶块尺寸。如果物理宽化同时包括晶格畸变或晶块细化两种因素，首先应从中分离出晶格畴变加宽，然后进行微观应力与晶块尺寸的计算。晶块细化引起的宽化尺寸为微晶，能引起可观察的衍射线的宽化。原因是干涉函数的每个主峰就是倒易空间的个选择反射区。三维尺寸都很小的晶体对应的倒易阵点变为具有定体积的倒易体元，选择反射区的中心是严格满足布拉格定律的倒易阵点。反射球与选择反射区的任何部位相交都能产生衍射。衍射峰的底宽对应于选择反射区的宽度范围。选择反射区的大小和形状是由晶块的尺寸为干涉函数主峰底宽与以，选择反射区的大小与晶块的尺寸成反比。可以把晶胞当做个散射单元，将晶胞的原点做为散射中心。取中心为原点，其它散射中心的位置用矢量示，即假定小晶体在晶轴小晶体中包括的晶胞数小晶体的三个棱长为晶胞间的相干散射位相差可表晶界裂纹空位和缺陷等附近产生不均匀的塑性流动，从而使材料内部存在着微区几十埃应力。这种应力也会由多相物质中不同取向晶粒的各向异性收缩或合金中相邻相的收缩不致或共格畸变所引起。试样中的这种应力即无定的方向，又无定的大小。似的因此它们使面间距产生定的变化范围，从而衍射角有个变比范围，即使衍射线宽化。微观应力与衍射线宽化计算关系微观应力或晶格畸变导致晶面间距发生对称性变化，相应地引起衍射角变化。衍射线的半高宽为微晶宽化与波长成正比，而微观应力宽化与正比。区分二者的二种方法利用不同波长的辐射进行测试，如果衍射线宽随波长变化，说明宽化是由微晶引起。反之，则由微观应力引起。用试样不同衍射级的衍射线计算线宽，观察各衍射线线宽随角的变化规律。如果明宽化是由微晶引起的如果明宽化是由微观应力引起。微晶宽化与微观应力宽化的分离如果试样中同时存在微晶宽化和微观应力宽化，问题的处理将比较复杂。设微晶宽化的线性函数为微观应力宽化的线性函数为。这两种宽化效应的叠加也遵循卷积关系，物理宽化与微晶宽化卷积的求解方法有近似函数法，付立叶变换法和方差分析法这只介绍第种。常用的近似函数有高斯函数及柯西函数。实践中多选表中第三种搭配方案。表，搭配关系表，的关系