1、“.....为验证该体系结构可行性，新设计体系结构被用于拉深过程中压边糊推理作为种过程控制设计人工智能工具。图基于数据库智能金属板料成形系统设想图智能金属成型拉深过程设计系统体系结构评价函数不应受板料材料加工条件环境条件和其他因素影响。出于这个原因，使用从冲压行程曲线获取评价函数和和从最大明显板料厚度曲线获取评价函数和。评价函数是假设均匀壁厚下获取实际冲压行程曲线和理想曲线几何差值曲线。是对板厚减薄率微分。综合使用和可用于破裂预测。评价函数是压边圈位移......”。

2、“.....用来代替壁厚分布。和样，综合使用和可用来评估起皱情况。约束函数定义为冲压负荷曲线微分用来评估冲压进展。在这项研究中数据库是由四种过程变量组成冲压冲程，冲压负荷，表面最传感器激励工作单元大厚度和板料减薄率。是从法兰边缘位移位置得出。而是最初板料半径和是法兰边缘位移值，这些过程数据用于设计相应隶属函数集评价函数，因此他们必须在各种材料和工艺条件材料特性，加工条件，润滑条件，周围条件下积累。本文提出体系结构中，可设计三个目标函数......”。

3、“.....二是在起皱极限下施加最中，最般模式是由等人提出，这种模型解决了批业务短期调度。混合整数线性规划模型功能包括以下内容加工任务无须固定，二可处理可变大小批次与混合可能性，三不同中间储存和转移政策可以适应，以及资源限制。在由等工作中，个主要假设是时域离散，但这种做法往往意味着必须对原始数据执行些四舍五入。此外，转换时间通常被忽略，因为它们不能轻易处理这模式。由等人提出混合整数线性规划模型重要方面是任务网展现。图最优图网络计划......”。

4、“.....中间产品和最终产品二任务节点代表处理步骤。图提供了个状态工作网络例子，应当指出该设备是分开考虑。般假定每个单元可以执行数个任务。由此产生混合整数线性规划模型决定了作业时间设备操作材料流动。我们目标是获得利润最大化功能。图显示了在图示例最优调度结果。应当指出，通过改进混合整数线性规划，可以解决与之相当大问题。此外，提出资源任务网络，从而导致更紧凑型模式，与相比，尽管它实际上是同等，有趣是，在上文图，无论是和都可以处理任意拓扑结构网络......”。

5、“.....基于离散型，能够处理所有类型和在较低水平分列其后问题。另外个子问题得到解决后，每次迭代，以确定最佳新聚合计划和线那里吸附率减少了对内部扩散影响。该机制第个是比较快，随后膨润土扩散在染料毛孔和毛细孔结构上班纳吉等麦凯等人年。为了验证这期间可能由不同吸附剂吸附过程控制机制，下面动力学模型在实验上使用如图图亚甲蓝膨润土吸附动力学研究初始浓度膨润土浓度第阶模型其中反应速率常数，染料吸附在时间，平衡时间。第二阶模型其中第二阶吸附速率常数......”。

6、“.....经验常数，如果，是内扩散速率控制吸附速率。本公式有效利用了上述线性对数检查图中三种模式是相对值，实验数据表明了模型适用性范围。未显示点表明，这些地方吸附动力学三个吸附剂在这项工作中所使用数据服从第二阶模型。有人还发现，在颗粒内扩散吸附过程明显，但它不是表显示速控步骤。速率常数二阶模型相关系数提供了膨润土应用到这项工作考虑到三种类型动力学模型。表二阶模型数据与其他模型值不变温度影响平衡等温线实验分别测量等温线处微波激活膨润土在......”。

7、“.....高温导致了微波激活膨润土对亚甲基蓝摄取量增加了图。这表明，膨润土对亚甲基蓝吸附是吸热过程。这种趋势已经有报道，有些作者在研究几种吸附剂对染料和其他有机化合物吸附时认为这些吸附往往是是不同类型麦凯等人年，年等等年盖尔年。有人越大，起皱现象就可能越严重。如图和图曲线所示，三次不同凸模间隙拉深模拟，沿截面相同拉深高度处值。从图可以看出，在次模拟中位于拉深壁拐角处起皱比较严重，在拉深壁中间起皱比较弱。还可以看出，凸模间隙越大，比值就越大。因此......”。

8、“.....压边力影响众所周知，增加压边力可以帮助削弱拉深过程中发生褶皱。为了研究增加压边力影响，采用凸模间隙为，不同压边力数值来对有斜度方形盒进行拉深起皱模拟。压边力从增加到，以提供压边力到。其他模拟条件和先前规定保持致在模拟当中采用了压边力。模拟结果表明增加压边力并不能消除拉深壁处起皱现象发生。如图所示，在截面处值，和压边力分别为拉深相比较，模拟结果指出，在截面处值都是相同。为了分析两次不同压边力时出现起皱不同......”。

9、“.....对处不同高度截面进行了分析，如图所示，图给出了所有情况曲线。从图可以看出，几种情况截面处波度是相似。这就证明压边力与有斜度方形盒件拉深中起皱现象无关，因为褶皱形成主要是由于拉深壁处大面积无支撑区域存在较大横断面压力，所，拉深模制造出来了，并且盒形件消除了褶皱问题，如图所示。盒形件外形也与用有限元模拟所获得外形效果样好。图第次拉深工序第二次拉深工序图消除褶皱后产品图为了更进步验证有芯片试验中找到合适线性方法。平均这些结果得到了各芯片数据......”。