1、“.....并广泛应用在只能手机卫星遥感，测绘通讯航天航空等许多领域。目前在甚至于标准下的高频器件还暂未发现其它更具有优异性能的压电的材料用于替代钽酸锂晶体。电荷积分法也可测试样品的热释电系数，在定时间的温度变化与样品电荷变化与热释电系数关系可表示为公式。从式看出，只要测出电常典型的非化学计量比的晶体，铌酸锂晶体是种拥有非线性的光学性质晶体材料，它的光学系数较大，并且能够在目前的环境下实现非临界状态的相位对应匹配的性能，在目前的材料行也领域用来制作目前谐波发生器中频转换器红外光波段探测器声光开关，光参量谐振器等各种光电子器件的基础材料。钽酸锂晶体也属于与铌酸锂晶体相类似的结构。跟铌酸锂几乎样，也是种在目前化学材料领域试论对比测试化学还原原压电晶片的性能晶体学论文质物理北京科学出版社，屠海令国内外半导体材料标准汇编北京中国标准出版社，梁灿彬，秦光戎......”。

2、“.....张俊，杨宜，罗俊化学还原压电晶片测试浅析山东化工，。试论对比测试化学还原原压电晶片的性能晶体学论文。电荷积分法也可测试样品的热释电系数，在定时间的温度变化与样品电荷变化与热释电系数关系可表示为公式。从式看出的能力，将样品臵于加热平台上，以恒定速率把样品从室温升至后在降温至室温，对于普通钽酸锂晶片来说，经历温度冲击之后，般会出现明显的热释电效应，及在暗室中晶片表面能看见明显的火花放电，导致晶片开裂。经过化学还原处理的碳酸锂晶片则不会发生火花放电现象。结论通过以上多种方法对还原晶片和普通晶片进行对比测试，对测试结果进行理论分析表得温度信号和测量放大电路输出信号同时进行处理，通过计算得到热释电电荷，同样可以做出关系曲线，在计算曲线斜率，最终确定热释电系数。虽然该方法测试热释电的系数较为准确，但是在整个测试过程中需对温度进行准确的控制......”。

3、“.....对测试方法及周围环境的控制要求高，只适合实验室测试小规模中实，不态适合定规模下的科研应图晶片和晶片图晶片和晶片居里温度电导率测试电导率是种作为材料导电性能表征的种参量，其本质就是该种材料的电阻率的倒数。采取极电极法，选择数显高阻仪，上海精密制作仪器仪表公司测量了铌酸锂晶片样品中尺寸为英寸和的这两种晶片的电阻值，测试的环境温度为常温，相对湿度选择为。该两种晶片的电阻率可以通过公式要体现在居里温度，热释电，电阻率等相关测试，所以本研究针对化学还原的钽酸锂晶片及化学还原的铌酸锂晶片俗称黑片和普通的钽酸锂晶片及普通的铌酸锂晶片俗称白片分别进行居里温度电阻率热释电的测试，以此判断化学还原的工艺对压电材料性能的影响。居里温度测试采用热重差热分析仪，德国耐驰对钽酸锂晶体中的和，铌酸锂晶体中的片分别进行差热分析......”。

4、“.....通过该测试方法进行分析测试，如图所示，钽酸锂晶片和的两种样品的居里温度几乎完全致，均在，铌酸锂晶片的两种样品和的居里温度也几乎完全致，均在。说明化学还原的工艺并未影响材料的压电性能，化学还原处理不影响晶体的组分。在测试温是该仪器的款常数与横截面积的比值，是被测试样品的厚度值在本次测试过程中采取厚度为定值的厚晶片，待被测试样品的电阻率确定之后，电导率随之通过公式。计算得到，结果列于表中。化学还原的铌酸锂表征测试方法进行化学还原的晶片工艺过程，只是增加还原性气体或惰性气体进行，对于晶片的本质结构并未改变，所以对于化学还原后的晶片测试和般晶片的测试主要体现在居殷之文电介质物理北京科学出版社，屠海令国内外半导体材料标准汇编北京中国标准出版社，梁灿彬，秦光戎，梁竹健电磁学北京高等教育出版社林震，张俊，杨宜，罗俊化学还原压电晶片测试浅析山东化工，......”。

5、“.....图晶片和晶片图晶片和晶片居里温度电导率测试电导率是种作为材料导电性能表征的种参试论对比测试化学还原原压电晶片的性能晶体学论文和种晶片分别进行差热分析，根据不同的差热曲线的微分曲线对温度的微分曲线的拐点确定晶体的居里温度的相变点。通过该测试方法进行分析测试，如图所示，钽酸锂晶片和的两种样品的居里温度几乎完全致，均在，铌酸锂晶片的两种样品和的居里温度也几乎完全致，均在。说明化学还原的工艺并未影响材料的压电性能，化学还原处理不影响晶体的组应的直接测试，可采取相对准确控温方式使晶片的样品按照定的速率升温，在确定升温速率下，通过测试样品热电流，可计算热释电系数的具体数值公式。试论对比测试化学还原原压电晶片的性能晶体学论文。化学还原的铌酸锂表征测试方法进行化学还原的晶片工艺过程，只是增加还原性气体或惰性气体进行，对于晶片的本质结构并未改变......”。

6、“.....将样品臵于加热平台上，以恒定速率把样品从室温升至后在降温至室温，对于普通钽酸锂晶片来说，经历温度冲击之后，般会出现明显的热释电效应，及在暗室中晶片表面能看见明显的火花放电，导致晶片开裂。经过化学还原处理的碳酸锂晶片则不会发生火花放电现象。结论通过以上多种方法对还原晶片和普通晶片进行对比测试，对测试结果进行湿度定的情况下，电导率的增加是因为材料中离子的价态发生明显的改变，从价变为价，在整个过程中会使自由价态的电子数量增多，从而导致在外加电场的作用下材料的导电性能变强，提升晶片的电导率，使得晶片中和热释电效应产生的电荷，从宏观上降低热释电效应。所以通过还原法制作的压电晶片能够有效降低材料本身的热释电效应。热释电效应的测试通常状况下，采取静态法进行热释电效温度，热释电，电阻率等相关测试......”。

7、“.....以此判断化学还原的工艺对压电材料性能的影响。居里温度测试采用热重差热分析仪，德国耐驰对钽酸锂晶体中的和，铌酸锂晶体中的和种晶量，其本质就是该种材料的电阻率的倒数。采取极电极法，选择数显高阻仪，上海精密制作仪器仪表公司测量了铌酸锂晶片样品中尺寸为英寸和的这两种晶片的电阻值，测试的环境温度为常温，相对湿度选择为。该两种晶片的电阻率可以通过公式采取计算的方式得到，其中表示的是被测样品的电阻率值，表示的是被测试样品的电阻值，理论分析表明，该热释电测试的简易测试装臵可以满足相关测试要求的，并且测试方法简单，操作易行。化学还原后的晶片相比于普通晶片，电阻率明显提高，经过化学还原后的晶片热释电效应，明显降低，还原处理的方法基本不会影响晶片的外观形貌......”。

8、“.....所以化学还原晶片可以大幅度提高器件的成品率，是科研生产工业化的优选方法。参考文献方俊鑫，试论对比测试化学还原原压电晶片的性能晶体学论文下的科研应用生产测试。所以必须选取种合适的方法对晶片的热释电系数进行测试，测试方法简单，且能快速测试，所以根据上式进行分析，目前准备开发种测试方法对热释电效应进行测试，该测试方法的原理为通过在晶片的两面加持瞬时的高压，直接测的晶片两面的电阻，通过电阻与热释电系数的对应关系即可直观表征相应的晶片热释电性能。为了测试化学还原钽酸锂晶片降低甚至消除热释电效荷，即可以得到热释电系数。测试过程中，不同的电荷存在于被测试样品的两端，通过校正电容可以及时释放积累产生的电荷，避免其累加起来产生静电放电，这样可以得到总的热释电电荷，同时也保证了零电场。所以测量电路的输出电压，热释电系数的互相关系可由热释电电荷，输出电压积分电容者之间的关系确定公式......”。

9、“.....由于薄膜样品面积为常数，经过校正的积分电容为种相对重要的压电晶体材料，具有相当优良的压电性能铁电性能以及声光电光效应，由于其优异的压电性能使之成为声表面谐振波器件光电子通讯器件激光探测器等光学电子类相关领域的非常重要的基础功能材料。经过单抛或双抛加工处理之后的碳酸锂晶片广泛用于声表面谐振器声光滤波器光电换能器等传统或新型电子领域相关声光电等器件的研发加工制造，特别是压电晶体优良的机电耦合性能铁只要测出电荷，即可以得到热释电系数。测试过程中，不同的电荷存在于被测试样品的两端，通过校正电容可以及时释放积累产生的电荷，避免其累加起来产生静电放电，这样可以得到总的热释电电荷，同时也保证了零电场。所以测量电路的输出电压，热释电系数的互相关系可由热释电电荷，输出电压积分电容者之间的关系确定公式。化学还原法铌酸锂晶体的应用铌酸锂晶体是种非明......”。