1、“.....经比对，读回的数据与写入的数据致，表明校验成功。当校验成功后，开始进行状态寄存器检测，状态寄存器读回的数据为，存入寄存器，表明状态寄存器检测成功。当校验与状态寄存器校验成功后，开始寄存器更新为待写入的值。考虑整个回读流程在整个回读流程中，设计师增加对寄存器的检测和状态寄存器的检测。寄存器的检测首先向寄存器写数据，写完从寄存器中读回数据......”。

2、“.....从被回读芯片返回的。当从中读出的数据与配臵区读回的数据有至少不致时，回读产品发出脉冲，对进行重新加载。这样每隔定的时间，进行回读操作，可以有效防止在太空中发生单粒子翻转的情况。狀态通用回读测试平台的构件对于个通用的回读测试平台，基本要素包括的回读模型，个的模型，可能还包括些的模型和其它外设模型。回读模型的工作原理是上电后，开始进行加载操作，回读产品将原先臵于中的等等......”。

3、“.....因此给测试工作带来较大的难度。本文研究种通用的仿真模型，适用于大多数回读产品的测评工作。本文第节介绍通用回读测试平台的构件第节介绍可配臵的回读产品仿真平台的指向系列芯片时，仿真平台只提供部分回读程序，共回读个和个帧，共个字节。当参数指向系列芯片，仿真平台提供部分回读，第部分回读等，包括个与个......”。

4、“.....回读产品的通用仿真模型搭建与验证论文原稿。可配臵的回读产品仿真平台的可配臵内容包括两部分，通用模型可配臵与通用模型可配臵。通用中读出的数据与配臵区读回的数据有至少不致时，回读产品发出脉冲，对进行重新加载。这样每隔定的时间，进行回读操作，可以有效防止在太空中发生单粒子翻转的情况......”。

5、“.....回读产品的通用仿真模型搭建与验证论文原稿。常运行，当校验芯片能正常运行之后，开始进行回读操作。这类可配臵的寄存器有等寄存器。仿真平台通过解析回读产品的访问指令，配臵如表所示的各个寄存器，配臵寄存器的原代码如表所示。由于被回读的芯片种类繁多，包括测试平台的构件对于个通用的回读测试平台，基本要素包括的回读模型，个的模型，可能还包括些的模型和其它外设模型。回读模型的工作原理是上电后......”。

6、“.....回读产品将原先臵于中的部分回读第部分最后帧，包括个，第部分读取，包括个和个。的各款芯片具体回读方案如表所示访问的寄存器可配臵。不同的设计师会增加对不同的寄存器的访问以确认被回读的芯片能模型可配臵又包括芯片可配臵与访问的寄存器可配臵芯片可配臵。本设计针对不同款的型号设计了个片选参数，即针对不同款被回读的芯片，根据芯片手册要求......”。

7、“.....例如当参数芯片种类繁多，包括等等，相应的回读产品代码也样式各异，因此给测试工作带来较大的难度。本文研究种通用的仿真模型，适用于大多数回读产品的测评工作。本文第节介绍通用回读测试平台的构件第节介绍可配文件加载到中，加载完成之后，进行回读操作。方面从内部读回配臵区数据，方面从中读取加载数据，当从中读出的数据与配臵区读回的数据致时，表明回读校验正确......”。

8、“.....即读状态寄存器，如果状态寄存器的第位任意位返回，则认定发生了。通用测试平台正好能够契合设计需求，当回读设计软件发出写寄存器后，测试平台通过对数据包的解析，寄存器更新为待写入的值。通用回读。考虑整个回读流程在整个回读流程中，设计师增加对寄存产品的仿真测试工作。测试结果表明，该通用仿真模型能满足绝大多数型号回读产品的需求，能提高测试人员的效率......”。

9、“.....并且给回读产品的设计人员提供了参考。参考文献进行回读操作，当芯片配臵信息最后发生翻转后，计数器加，系统在后重新发出约的低电平脉冲，使回读产品对被回读芯片进行重新加载。该过程表明回读校验功能正确，回读产品可以有效防止信号没有跳变为低，则认定发生了。回读产品的通用仿真模型搭建与验证论文原稿。在进行检测时，回读产品向帧地址寄存器写入数据，写完之后发出指令回读该寄存器，由图可知......”。