1、“.....验证工程师必须花费大量的时间来研究的功能以及些关键接口信号，以保证能开发出正确的检查器来进行系统级验证。问题种基于的集中检查器自动产生方法论文原稿动产生方法论文原稿。因为检查器分散在不同部分，所以很难产生个直观并且集中的覆盖率报告，也很难知道哪些检查器还没有被覆盖到。不同的验证工程师和工程师可能花费了大量时间去构建几乎相同的检查器......”。

2、“.....因此，在芯片集成的模块越来越多，设计的工作模式越来越复杂的情况下，验证工程师必须花费大量的时间来研究的功能以及些关键接口信号，以保证能开发出正确的检查器来进行系统级验证。问题在实际模式，会工作在模式。验证工程师必须创建些检查器去检查当芯片在种功能模式下运行时，是否处于正确的工作状态。但验证工程师却很困难去获取哪些信号需要保持在何种状态......”。

3、“.....而不同的模块会工作在不同的功能模式中。所以我们需要建立功能模式与功能模式映射关系。图是模块设计师定义了些信号和功能模式。因为模块设计师很清楚自己所设计的模块的关键信号的预期值与功能模式之间的关系，所以图中表格的内容质量要明显高于验证工程师构建的检查器。除此之外......”。

4、“.....该方法基于定义的功能模式与模块定义的功能模式映射，抽取模块的关键信号列表，实现了本文所介绍的检查器自动产生方法，并且在最近进行的芯片设计工程中成功使用了该方法。下面摘取了部分产生出来的检查器内容。，被模式使用。从模块信号列表中抽取信号名字和预期值，并产生检查器。执行仿真并产生覆盖率报告该方法產生的检查器是在级实现的......”。

5、“.....并且因为信号列表被存放于数据库中，这保证了信号列表的正确性和致性，很容易被使用。种基于的集中检查器自动产生方法论文原稿。结构及其优化的研究哈尔滨工业大学。在图中和功能模式......”。

6、“.....所以图中表格的内容质量要明显高于验证工程师构建的检查器。除此之外，模块设计师很容易对图中的关键信号和功能从而自动产生检查器。这种检查器能够被不同的开发工程师使用。的重用性与自动产生的检查器提高了产品质量和开发效率，而产生的覆盖率报告也进步提高了芯片开发质量。参考文献王永生系统级芯片可测试那些检查器。这样使用仿真工具就能很容易产生覆盖率报告。根据覆盖率报告......”。

7、“.....就能够比较容易地抓到设计中的缺陷。检查器产生流程图给出了该方法的完整流程。实验结果我们使用脚式进行扩展以满足不断增强的模块功能。并且因为信号列表被存放于数据库中，这保证了信号列表的正确性和致性，很容易被使用。根据的不同功能模式定义产生检查器中的条件。例如，被模式使用种基于的集中检查器自动产生方法论文原稿模式，模式被映射到的模式......”。

8、“.....当芯片进入模式时，会工作在模式，会工作在模式。在图中模块设计师定义了些信号繁杂，且因的定义不同而不同，因此设计师很难知道自己设计的需要工作在哪些功能模式，也很难给提供相应的指导和帮助。建立功能模式与功能模式映射关系通常会在用户手册中定义多种多样在实际开发项目中，因为些关键的检查器构建或者因为疏忽而遗漏些测试点，就会导致芯片产生些缺陷......”。

9、“.....这些问题都会导致芯片开发延期。种基于的且执行了大量的仿真，开发效率非常低，并且检查器的质量和重用性也无法保证。集中检查器自动产生方法为了解决上面所述的问题，笔者开发了种集中检查器自动产生方法。检查器是验证平台中个负责进行数据对比和报告的组件，是开发项目中，因为些关键的检查器构建或者因为疏忽而遗漏些测试点，就会导致芯片产生些缺陷......”。