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电子器件散粒噪声的测试方法(论文原稿) 电子器件散粒噪声的测试方法(论文原稿)

格式:word 上传:2022-08-17 03:11:00

《电子器件散粒噪声的测试方法(论文原稿)》修改意见稿

1、“.....噪声的主要来源都是散粒噪声。在高频情况下,散粒噪声谱变得与频率有关。而在低频和中频下,频率不会影响到散粒噪聲。散粒噪声测试的些条件温度和偏置条件电子器件的热噪声和散粒噪声均会被以白噪电子器件散粒噪声的测试方法论文原稿不均匀性引起的噪声,通常出现在些通信设备的有源器件中。根据相关文献记载,散粒噪声最早在年已经被发现,技术人员进行了各种分析,得出了些有利于改进的经验,不过就目前的科技条件而言,散粒噪声依然是很难完全,不过就目前的科技条件而言......”

2、“.....电子器件散粒噪声的测试方法论文原稿。电子器件散粒噪声的测试方法利用频谱分析仪进行噪声分析频谱分析仪种多用途的电子测量仪器,主要是研究电信导体器件,包括计算机电话手机以及前些年广泛流行的收音机等,噪声的主要来源都是散粒噪声。在高频情况下,散粒噪声谱变得与频率有关。而在低频和中频下,频率不会影响到散粒噪聲。散粒噪声的相关知识简介什么是散散粒噪声测试的些条件温度和偏置条件电子器件的热噪声和散粒噪声均会被以白噪声的形式表现出来......”

3、“.....本质上讲,热噪声是种平衡噪声,受温度影响,温度升高往往热噪声就会变大,同时,置在温度较低的环境中,在用于测量电子器件的散粒噪声时,偏置桥电路可以将被测电阻产生的电流噪声转换为电磁信号,同时为被测电阻提供测试所需的偏置电流,通过以上设置可以消除超导量子干涉磁强计输入电流产生的卫星通信中经常采用,由于成本较高,同时应用范围并不很广泛,般来说日常生活中不会用到,但可以尽量使电子器件的工作环境接近实验室水平,从而降低散粒噪声的影响......”

4、“.....各种电子器件所需要的材料不止种,比如银和铝在些设备中可以通用,而铜钨的使用也十分广泛,有鉴于此,可以通过不断的实验寻求种噪声较低的材料用于电子器件的制造。改良制造,或者本身出现故障,这都会对实验结果造成影响,为求尽量避免这种情况,对设备的要求必须严格,包括各种仪器在不同温度条件下出现的误差值其本身测量精度等,尽可能保障测试结果的准确性和科学性......”

5、“.....具体操作时,通过偏置桥电路,将电阻产生的电流波动转化为电磁信号,之后再利用超导量子干涉磁强计的接收设备对电磁信号进行接收合放大,从而获得测试结果。电子器件散粒噪声的测试方法论文原稿磊,陈文豪短沟道散粒噪声测试方法研究电子科技,郑磊结极管散粒噪声测试方法研究现代电子技术,。使用超导量子干涉磁强计和偏置桥电路进行测试在测试中,将超导量子干涉磁强计和偏置桥电路放录。对电子器件散粒噪声测试时需要注意的问题温度相对要较低鉴于热噪声的影响......”

6、“.....具体温度可以结合实验室实际情况而定。热噪声和散粒噪声都属于白噪声,分辨起来有定难度,者受到难避免,但可以通过测试得出散粒噪声在不同环境中对电子器件的影响程度,为降低散粒噪声影响改进电子器件的工作效果提供些有利的数据支持。参考文献李春梅,杜磊散粒噪声时间序列测试方案研究电子科技,郑磊,杜工艺目前的电子器件制造工艺已经趋于成熟,但不意味着没有改进的空间,技术人员可以在目前工艺的基础上,尽可能的进行改良,将散粒噪声的影响降到最低......”

7、“.....在接收很微弱信号的系统噪声来源于测试设备,包括放大器背景偏置元件和偏置电源等,必须控制总噪声低于散粒噪声至少个量级,这又要求独立的噪声源要低于散粒噪声至少个量级,否则对散粒噪声的捕捉和测试都会造成很大困扰。降低散粒噪不同环境影响也会有不同的强弱变现,通常来说,较低的温度可以有效降低热噪声的影响,而热噪声的影响越低,往往散粒噪声的捕捉和测试就会越简单和科学......”

8、“.....但需要注意的是,很多仪器在温度较低的环境里会产生定程度的误差,使测试结果变得不精确,因此,在温度环境不能随意变更的情况下,需要尽可能采用较为优质的设备进行测试和相关的记电磁信号,同时为被测电阻提供测试所需的偏置电流,通过以上设置可以消除超导量子干涉磁强计输入电流产生的直流电流的分量。具体操作时,通过偏置桥电路,将电阻产生的电流波动转化为电磁信号,之后再利用超导量子的形式表现出来,通常不通过专业设备难以有效分辨,本质上讲......”

9、“.....受温度影响,温度升高往往热噪声就会变大,同时,热噪声不会受到偏置的影响,而散粒噪声与温度的关系并不是直接的,但却会受到偏避免的。电子器件散粒噪声的测试方法论文原稿。散粒噪声产生的原理简单的说,散粒噪声是由形成电流的载流子的分散性造成的,目前来看,社会生活中所使用的大多数半导体器件,包括计算机电话手机以及前些年广泛号频谱结构,用于信号调制度谱纯度失真度频率稳定度和交调失真等相关测量,可以用于测量放大器和滤波器等电路系统的些参数......”

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