1、“.....其中特征分析法是最常用的测试响应压缩,特征分析法多采用线性反馈移位寄存器多输入特征寄存器和异或网络等。计数压缩方式是指统计响应中的个数,而转移计数压缩方式与计数压缩方式类似的张玲数字电路测试激励压缩研究湖南大学,作者简介王东旭,女,黑龙江省哈尔滨人,哈尔,成永升基于扩展相容性扫描树的低测试响应数据量方法研究湖南大学,集成电路测试数据压缩研究原稿非常高。所以对于大量测试数据压缩的研究已经成为现在很多学者争相研究的重点,其中测试数据压缩主要分为测试激励压缩和测试响应压缩。关键词超大规模集成电路测试数据自动测试设备测试数据压缩技术法多采用线性反馈移位寄存器多输入特征寄存器和异或网络等......”。

2、“.....而转移计数压缩方式与计数压缩方式类似的,不过这种方式计数的是响应从跳变到或者从跳变到的个数。集成电路本随之剧增第我们所使用的测试芯片的数目有限,测试设备的通道量吞吐能力和速度也有限,测试数据量过大会使得测试过程中的难度和复杂程度大大加剧,同时为了提供全速测试,测试设备的频率也需要提得征寄存器是实现并行特征分析技术的关键。基于的特征分析技术是今天最为广泛使用的压缩技术,其实是种基于结构的压缩技术,在数学层面上理解其实是进行了除法运算,就是将整个输出响应的多测试,测试设备的频率也需要提得非常高。所以对于大量测试数据压缩的研究已经成为现在很多学者争相研究的重点......”。

3、“.....特征分析技术是现今最为流行的响应压式除以特征多项式,最后得到的余数存在中,也就是这种方式得到的特征值。常见的响应压缩器还包括计数法奇偶测试跳变次数压缩症候群计算特征分析。其中特征分析法是最常用的测试响应压缩,特征分析测试数据量过大主要是因为电路与系统的速度性能和复杂程度日益提高以及元器件集成度增加使得测试数据量剧增,测试数据量过大会带来以下这样的问题首先,测试设备需要比较大的存储容量来存储这些向量其次提高,测试已经成为迫切需要解决的问题,对于每个电路,不同的测试生成方法所产生的测试数据和测试图形是不同的......”。

4、“.....衡量测试质量或效率高低的就是故试质量或效率高低的就是故障覆盖率。在大型的集成电路中优化的指标有项,速度面积功率和可测性。但是无论哪项指标,其中庞大的测试数据都是影响其性能的主要原因之。集成电试数据压缩研究原稿。参考文献郭琨基于片上系统低功耗测试的编码压缩技术研究北京工业大学,式除以特征多项式,最后得到的余数存在中,也就是这种方式得到的特征值。常见的响应压缩器还包括计数法奇偶测试跳变次数压缩症候群计算特征分析。其中特征分析法是最常用的测试响应压缩,特征分析非常高。所以对于大量测试数据压缩的研究已经成为现在很多学者争相研究的重点......”。

5、“.....关键词超大规模集成电路测试数据自动测试设备测试数据压缩技术与系统的速度性能和复杂程度日益提高以及元器件集成度增加使得测试数据量剧增,测试数据量过大会带来以下这样的问题首先,测试设备需要比较大的存储容量来存储这些向量其次测试时间会越来越长因而测试成集成电路测试数据压缩研究原稿障覆盖率。在大型的集成电路中优化的指标有项,速度面积功率和可测性。但是无论哪项指标,其中庞大的测试数据都是影响其性能的主要原因之。集成电路测试数据压缩研究原稿非常高。所以对于大量测试数据压缩的研究已经成为现在很多学者争相研究的重点,其中测试数据压缩主要分为测试激励压缩和测试响应压缩......”。

6、“.....关键词超大规模集成电路测试数据自动测试设备测试数据压缩技术随着集成电路的复杂程度不析技术适用于待测电路只有个输出端,而并行特征分析技术可以对多输出电路进行压缩,多输入特征寄存器是实现并行特征分析技术的关键。基于的特征分析技术是今天最为广泛使用的压缩技术,其实是种基测试数据压缩研究原稿。在测试数据压缩方面,国外杜克大学弗吉尼亚大学伊利诺伊州立大学德克萨斯大学奥斯汀分校宾夕法尼亚大学佐治亚理工大学日本州工业大学等国内中国科学院计算所清华大学合式除以特征多项式......”。

7、“.....也就是这种方式得到的特征值。常见的响应压缩器还包括计数法奇偶测试跳变次数压缩症候群计算特征分析。其中特征分析法是最常用的测试响应压缩,特征分析着集成电路的复杂程度不断提高,测试已经成为迫切需要解决的问题,对于每个电路,不同的测试生成方法所产生的测试数据和测试图形是不同的,高质量的测试是应该用进行可能少的数据测出尽量多的故障,衡量测本随之剧增第我们所使用的测试芯片的数目有限,测试设备的通道量吞吐能力和速度也有限,测试数据量过大会使得测试过程中的难度和复杂程度大大加剧,同时为了提供全速测试......”。

8、“.....测试设备的通道量吞吐能力和速度也有限,测试数据量过大会使得测试过程中的难度和复杂程度大大加剧,同时为了提供全速于结构的压缩技术,在数学层面上理解其实是进行了除法运算,就是将整个输出响应的多项式除以特征多项式,最后得到的余数存在中,也就是这种方式得到的特征值。测试数据量过大主要是因为电集成电路测试数据压缩研究原稿非常高。所以对于大量测试数据压缩的研究已经成为现在很多学者争相研究的重点,其中测试数据压缩主要分为测试激励压缩和测试响应压缩。关键词超大规模集成电路测试数据自动测试设备测试数据压缩技术不过这种方式计数的是响应从跳变到或者从跳变到的个数......”。

9、“.....这种技术与循环冗余校验技术相似。特征分析技术分为两种串行特征分析技术和并行特征分析技术。串行特征本随之剧增第我们所使用的测试芯片的数目有限,测试设备的通道量吞吐能力和速度也有限,测试数据量过大会使得测试过程中的难度和复杂程度大大加剧,同时为了提供全速测试,测试设备的频率也需要提得滨市南岗区黑龙江大学,电路与系统专业级,研究生,研究方向电路与系统通讯录作者胡靖,女,黑龙江省哈尔滨人,博士,研究方向系统设计常见的响应压缩器还包括计数法奇偶测试跳变次数压缩症候,试数据压缩研究原稿。参考文献郭琨基于片上系统低功耗测试的编码压缩技术研究北京工业大学,式除以特征多项式,最后得到的余数存在中......”。