帮帮文库

返回

浅谈IGBT失效分析(原稿) 浅谈IGBT失效分析(原稿)

格式:word 上传:2022-06-26 22:56:44

《浅谈IGBT失效分析(原稿)》修改意见稿

1、“.....如图所示。失效表现为陶瓷基板上有裂痕。失效原因是安装产生的强应力导致陶瓷基板破裂。发生失效的条件是导热硅脂涂抹不均匀如图所示,使直接损坏。参考文献亢宝位绝缘栅双极晶体管的失效电力电子信息年第期。栅射极过压失效失效位置发生在栅极与发射极隔离区,如图所示。失效特征表现为芯片表面栅极与发射极隔高引起的熔区面积较大,尺寸超过几个由浪涌电流引起的熔区稍小,尺寸约短路电流导致发射区的大面积烧毁。超引起的失效,通常位于栅极以外的有源区,但不在键合点上,浅谈失效分析原稿是由功率和双极晶体管复合而成的种新型的电力半导体器件,它集两者的优点于体......”

2、“.....成为目前最有是紧固力和紧固顺序不合适,在陶瓷基板上产生应力,导致陶瓷基板破裂是模块在搬运或应用过程中受到强外力的影响。结语根据上述分析可知,不同的失效机理引起的失效位置不同。过压包括产品坏,微孔直径般小于,动态雪崩引起的裂缝起始于晶格,动态闩锁导致直接损坏。参考文献亢宝位绝缘栅双极晶体管的失效电力电子信息年第期。摘要绝缘栅双极晶体管采用进行功率变换,能够提高用电效率,提升用电质量,实现节能效果,在绿色经济中发挥着无可替代的作用。机械应力原因引起的失效失效位置通常发生在陶瓷基板上,如图所示......”

3、“.....它集两者的优点于体,具有输入阻抗大驱动功率小控制电路简单开关损耗小速度快及工作频陶瓷基板上有裂痕。失效原因是安装产生的强应力导致陶瓷基板破裂。发生失效的条件是导热硅脂涂抹不均匀如图所示,使得底板和散热器的接触不在同个平面,在紧固时产生应力导致陶瓷基板破裂,失效表现为键合点周围芯片表面有烧损,般键合线没有完全脱落。因为电路中有效功率较低,过电流脉冲引起的损坏没有短路时的严重。失效发生条件是由于触发问题,导致芯片突然流过个峰极,与过电流脉冲引起的失效和短路失效主要区别在于,超的失效通常不在键合点上,且损坏面积较小,经常伴有贯穿芯片的熔洞,如图所示......”

4、“.....提升用电质量,实现节能效果,在绿色经济中发挥着无可替代的作用。失效表现为键合点周围芯片表面有烧损,般键合线没有完全脱落。因为电路中有效功率较低,过电流脉冲引起自身的设计弱点或使用时超过额定电压及钝化层的长期稳定性差等,引起的失效均起始于边缘过流包括通过器件的平均电流过高浪涌电流及短路电流。由过流引起失效均位于有源区,只是平均电流过陶瓷基板上有裂痕。失效原因是安装产生的强应力导致陶瓷基板破裂。发生失效的条件是导热硅脂涂抹不均匀如图所示,使得底板和散热器的接触不在同个平面,在紧固时产生应力导致陶瓷基板破裂......”

5、“.....它集两者的优点于体,具有输入阻抗大驱动功率小控制电路简单开关损耗小速度快及工作频率高等特点,成为目前最有超引起的失效,通常位于栅极以外的有源区,但不在键合点上,且损坏面积较小,经常伴有贯穿芯片的熔洞。此外,动态效应包括续流极管的动态雪崩与的动态闩锁等引起的极管损浅谈失效分析原稿洞,这是由于芯片功耗超出所允许的范围,导致芯片局部损坏。浅谈失效分析原稿。过电流脉冲引起的失效失效位置通常发生在有源区不含栅极键合点周围,如图,所是由功率和双极晶体管复合而成的种新型的电力半导体器件,它集两者的优点于体,具有输入阻抗大驱动功率小控制电路简单开关损耗小速度快及工作频率高等特点......”

6、“.....这种瞬态过电流同样可能引起失效。过电流脉冲引起的失效失效位置通常发生在有源区不含栅极键合点周围,如图,所示。超的失效失效位置通常发生在有源区不含栅结语根据上述分析可知,不同的失效机理引起的失效位置不同。过压包括产品自身的设计弱点或使用时超过额定电压及钝化层的长期稳定性差等,引起的失效均起始于边缘过流包括通过器件的平均电的损坏没有短路时的严重。失效发生条件是由于触发问题,导致芯片突然流过个峰值较大的电流脉冲是续流极管反向恢复电流缓冲电容的放电电流及噪声干扰造成的尖峰电流等产生的电流脉陶瓷基板上有裂痕。失效原因是安装产生的强应力导致陶瓷基板破裂......”

7、“.....使得底板和散热器的接触不在同个平面,在紧固时产生应力导致陶瓷基板破裂,应用前景的电力半导体器件之。在轨道交通航空航天新能源智能电网智能家电这些朝阳产业中,作为自动控制和功率变换的关键核心部件,是必不可少的功率核芯。采用进行功率变换坏,微孔直径般小于,动态雪崩引起的裂缝起始于晶格,动态闩锁导致直接损坏。参考文献亢宝位绝缘栅双极晶体管的失效电力电子信息年第期。摘要绝缘栅双极晶体管峰值较大的电流脉冲是续流极管反向恢复电流缓冲电容的放电电流及噪声干扰造成的尖峰电流等产生的电流脉冲,这种瞬态过电流同样可能引起失效。浅谈失效分析原稿。摘要过高浪涌电流及短路电流......”

8、“.....只是平均电流过高引起的熔区面积较大,尺寸超过几个由浪涌电流引起的熔区稍小,尺寸约短路电流导致发射区的大面积烧毁。浅谈失效分析原稿是由功率和双极晶体管复合而成的种新型的电力半导体器件,它集两者的优点于体,具有输入阻抗大驱动功率小控制电路简单开关损耗小速度快及工作频率高等特点,成为目前最有得底板和散热器的接触不在同个平面,在紧固时产生应力导致陶瓷基板破裂,是紧固力和紧固顺序不合适,在陶瓷基板上产生应力,导致陶瓷基板破裂是模块在搬运或应用过程中受到强外力的影响。坏,微孔直径般小于,动态雪崩引起的裂缝起始于晶格,动态闩锁导致直接损坏......”

9、“.....摘要绝缘栅双极晶体管离区上有熔点。发生失效的条件是芯片栅极氧化层质量差,耐压不满足要求,或者芯片的栅极氧化层耐压发生退化是工况导致栅极过电压或电路产生栅极震荡。浅谈失效分析原稿。机械且损坏面积较小,经常伴有贯穿芯片的熔洞。此外,动态效应包括续流极管的动态雪崩与的动态闩锁等引起的极管损坏,微孔直径般小于,动态雪崩引起的裂缝起始于晶格,动态闩锁导致自身的设计弱点或使用时超过额定电压及钝化层的长期稳定性差等,引起的失效均起始于边缘过流包括通过器件的平均电流过高浪涌电流及短路电流。由过流引起失效均位于有源区,只是平均电流过陶瓷基板上有裂痕。失效原因是安装产生的强应力导致陶瓷基板破裂......”

下一篇
温馨提示:手指轻点页面,可唤醒全屏阅读模式,左右滑动可以翻页。
浅谈IGBT失效分析(原稿).doc预览图(1)
1 页 / 共 4
浅谈IGBT失效分析(原稿).doc预览图(2)
2 页 / 共 4
浅谈IGBT失效分析(原稿).doc预览图(3)
3 页 / 共 4
浅谈IGBT失效分析(原稿).doc预览图(4)
4 页 / 共 4
预览结束,喜欢就下载吧!
  • 内容预览结束,喜欢就下载吧!
温馨提示 电脑下载 投诉举报

1、手机端页面文档仅支持阅读 15 页,超过 15 页的文档需使用电脑才能全文阅读。

2、下载的内容跟在线预览是一致的,下载后除PDF外均可任意编辑、修改。

3、所有文档均不包含其他附件,文中所提的附件、附录,在线看不到的下载也不会有。

  • Hi,我是你的文档小助手!
    你可以按格式查找相似内容哟
DOC PPT RAR 精品 全部
小贴士:
  • 🔯 当前文档为word文档,建议你点击DOC查看当前文档的相似文档。
  • ⭐ 查询的内容是以当前文档的标题进行精准匹配找到的结果,如果你对结果不满意,可以在顶部的搜索输入框输入关健词进行。
帮帮文库
换一批

搜索

客服

足迹

下载文档