1、“.....避免在断口开断后因电压分布不均匀而造成损坏。断路器断口均压电容器通常采用瓷套外壳,元件全部串联,内部带补偿浸渍剂以及随运行温度变化而体积变化的金属波纹管。其材料工艺及介损值远高于实际电压下的介损值。高电压介损试验可以消除卡登效应的影响,能更真实的反映断口均压电容在运行状况下的介损情况起断路器均压电容介损超标问题的分析原稿起断路器均压电容介表数据表开关不同试验电压下均压电容试验数据由表可以看出,试验电压从升加到阶段,断路器均压电容介损值随电压的升高逐渐降低,试验电压为到阶段,介损值基本平缓不变而均压电容值基本稳定,不随电起断路器均压电容介损超标问题的分析原稿路器均压电容介损超标问题的分析原稿。电容器纸将油纸型断路器均压电容元件极板分隔成了若干区域......”。

2、“.....当没有试验电压时,正负离子杂乱无章地分布,并不消耗能量。当施加电压时,油中标,在现场预试工作中,通过测量介损值的大小来判断均压电容的整体受潮劣化变质等缺陷。由于试验现场存在强磁场感应电等条件干扰,使断路器均压电容可能出现在试验电压下介损值偏大,不能真实反映设备的绝也趋于饱和,导致离子振荡运动损耗增加趋缓。由于无功容量随电压增加而增加,损耗角正切值等于有功功率除以无功功率,因此使断路器均压电容将随测试电压升高而下降,这也进步验证了卡登效应理论起口间的电压均匀分布,改善断路器的开断能力,断口间通常加装并联均压电容器。在开断近区故障时,电容可以降低断口高频恢复电压上升限度,避免在断口开断后因电压分布不均匀而造成损坏。断路器断口均压电容器通常采用瓷术,全自动智能化测量......”。

3、“.....试验电压从,每升压记录次,得出下表数据表开关不同试验电压下均压电容试验数据由表可以看出,试验电压从升加到阶段,断路器均压电容介外壳,元件全部串联,内部带补偿浸渍剂以及随运行温度变化而体积变化的金属波纹管。其材料工艺及质量与其它电容器基本相同。介质损耗因数是反映高压断路器断口间并联均压电容以下简称均压电容绝缘性能的项重要摘要变电站断路器断口均压电容在现场电压下介损超标,通过分析断口均压电容的特性,并在现场排除各种干扰,将其进行高电压介损试验。试验结果表明由于卡登效应的影响,在电压下测得的介损值远高于实,元件全部串联,内部带补偿浸渍剂以及随运行温度变化而体积变化的金属波纹管。其材料工艺及质量与其它电容器基本相同......”。

4、“.....集中于电极两端使得介质空间的杂质相对减少,另方面随离子浓度增加,离子相遇机会增多,复合概率增大。浓度也趋于饱和,导致离子振荡运动损耗增加趋缓。由于无功容量随电压增加而增加,损耗角缘状态。高电压介损试验本次试验现场采用高电压介损测量仪,该仪器采用变频抗干扰和傅立叶变换数字滤波技术,全自动智能化测量,确保现场强干扰下测量数据准确稳定。试验电压从,每升压记录次,得出外壳,元件全部串联,内部带补偿浸渍剂以及随运行温度变化而体积变化的金属波纹管。其材料工艺及质量与其它电容器基本相同。介质损耗因数是反映高压断路器断口间并联均压电容以下简称均压电容绝缘性能的项重要路器均压电容介损超标问题的分析原稿。电容器纸将油纸型断路器均压电容元件极板分隔成了若干区域......”。

5、“.....当没有试验电压时,正负离子杂乱无章地分布,并不消耗能量。当施加电压时,油中的能量损耗。当试验电压由逐渐上升时,离子运动速度较快,随场强的升高,方面到达固体介质的离子趋于饱和,集中于电极两端使得介质空间的杂质相对减少,另方面随离子浓度增加,离子相遇机会增多,复合概率增大。浓起断路器均压电容介损超标问题的分析原稿在现场预试工作中,通过测量介损值的大小来判断均压电容的整体受潮劣化变质等缺陷。由于试验现场存在强磁场感应电等条件干扰,使断路器均压电容可能出现在试验电压下介损值偏大,不能真实反映设备的绝缘状路器均压电容介损超标问题的分析原稿。电容器纸将油纸型断路器均压电容元件极板分隔成了若干区域,浸渍剂中的离子充斥在各个区域内,当没有试验电压时,正负离子杂乱无章地分布,并不消耗能量......”。

6、“.....油中的电压均匀分布,改善断路器的开断能力,断口间通常加装并联均压电容器。在开断近区故障时,电容可以降低断口高频恢复电压上升限度,避免在断口开断后因电压分布不均匀而造成损坏。断路器断口均压电容器通常采用瓷套外现场存在强磁场感应电等条件干扰,使断路器均压电容可能出现在试验电压下介损值偏大,不能真实反映设备的绝缘状态。电容器纸将油纸型断路器均压电容元件极板分隔成了若干区域,浸渍剂中的离子充斥在各个区切值等于有功功率除以无功功率,因此使断路器均压电容将随测试电压升高而下降,这也进步验证了卡登效应理论。关键词均压电容,介损超标,断路器电气试验引言断路器般由两个以上的断口构成,为了使各断口间外壳,元件全部串联,内部带补偿浸渍剂以及随运行温度变化而体积变化的金属波纹管......”。

7、“.....介质损耗因数是反映高压断路器断口间并联均压电容以下简称均压电容绝缘性能的项重要的离子沿着电场方向,随电场方向的改变狭窄的空间内作往复的有限位移和重新排列,而离子来回移动需要克服质点间相互作用力,造成很大的能量损耗。当试验电压由逐渐上升时,离子运动速度较快,随场强的升高,方面到也趋于饱和,导致离子振荡运动损耗增加趋缓。由于无功容量随电压增加而增加,损耗角正切值等于有功功率除以无功功率,因此使断路器均压电容将随测试电压升高而下降,这也进步验证了卡登效应理论起实际电压下的介损值。高电压介损试验可以消除卡登效应的影响,能更真实的反映断口均压电容在运行状况下的介损情况。高电压介损试验本次试验现场采用高电压介损测量仪,该仪器采用变频抗干扰和傅立叶变换数字滤波内,当没有试验电压时......”。

8、“.....并不消耗能量。当施加电压时,油中的离子沿着电场方向,随电场方向的改变狭窄的空间内作往复的有限位移和重新排列,而离子来回移动需要克服质点间相互作用力,造成很大起断路器均压电容介损超标问题的分析原稿路器均压电容介损超标问题的分析原稿。电容器纸将油纸型断路器均压电容元件极板分隔成了若干区域,浸渍剂中的离子充斥在各个区域内,当没有试验电压时,正负离子杂乱无章地分布,并不消耗能量。当施加电压时,油中质量与其它电容器基本相同。介质损耗因数是反映高压断路器断口间并联均压电容以下简称均压电容绝缘性能的项重要指标,在现场预试工作中,通过测量介损值的大小来判断均压电容的整体受潮劣化变质等缺陷。由于试也趋于饱和,导致离子振荡运动损耗增加趋缓。由于无功容量随电压增加而增加......”。

9、“.....因此使断路器均压电容将随测试电压升高而下降,这也进步验证了卡登效应理论起超标问题的分析原稿。关键词均压电容,介损超标,断路器电气试验引言断路器般由两个以上的断口构成,为了使各断口间的电压均匀分布,改善断路器的开断能力,断口间通常加装并联均压电容器。在开断近区故障时,的变化而变化。摘要变电站断路器断口均压电容在现场电压下介损超标,通过分析断口均压电容的特性,并在现场排除各种干扰,将其进行高电压介损试验。试验结果表明由于卡登效应的影响,在电压下测得的缘状态。高电压介损试验本次试验现场采用高电压介损测量仪,该仪器采用变频抗干扰和傅立叶变换数字滤波技术,全自动智能化测量,确保现场强干扰下测量数据准确稳定。试验电压从,每升压记录次,得出外壳,元件全部串联......”。