1、“.....这是由于微波对于护套和芯棒材料都有定的穿透性,在缺陷正对探头和背对探头的宽度相当,故对于所采用的样品,微波反射法可以检测到非导通性缺陷半导通性缺陷和导通性缺陷的波动比非导通性缺陷更加明显,远远超出正常范围,可识别度极高约在,在有缺陷的位臵,反射波强度变化很大,峰值处超出正常范围,约为无缺陷波动的范围宽度的倍。综合分析对人为缺陷样品的检测过程,在对多个样品的检测中表基于微波反射法的复合绝缘子无损检测方法原稿绝缘子的材料结构较为复杂......”。

2、“.....可以看到有个峰。基于微波反射法的复合绝缘子无损检测方法原稿。半导通性缺陷样品同样测量等分点处的反射信号强度。由于测量中发现部分数合绝缘子无损检测方法原稿。摘要复合绝缘子发生事故有类重要原因是由于内部缺陷导致。针对复合绝缘子的无损检测技术很有必要,但目前尚无理想的方法。复合强度与无缺陷位臵有明显区别。对于本样品,无缺陷位臵的反射微波强度在,在有缺陷的位臵,反射波强度发生明显变化,在峰值处达到,相比于无缺陷正常信号范面即相距个坐标点的位臵的信号强度有所波动......”。

3、“.....在缺陷正对探头和背对探头的时候读数信号都会有定的反应。由于缺,偏离量为,约为无缺陷波动范围宽度的倍。结果及讨论。在样品的表面划分等分,测量对应位臵处的微波反射信号强度。非导通性缺陷的检测结果如图所示,植入缺陷关键词复合绝缘子无损检测微波反射法导通性缺陷检测距离为了对运行复合绝缘子内部缺陷进行无损探伤,提出种基于高频微波的检测方法,利用微波够滤出唯型波的波导尺寸范围,最后根据最大传输功率的要求选定工作频率。摘要复合绝缘子发生事故有类重要原因是由于内部缺陷导致......”。

4、“.....频段的微波适宜选用矩形金属波导管。由波导传输线理论,矩形波导管内部电磁波具有以下性质尺寸确定的矩形波导管只能传递频率离超出数据采集卡量程,调整探头与样品之间的距离为约其可行性在节中进行讨论,进行测量。样品中植入缺陷的位臵是坐标处。样品中无缺陷位臵的反射波强度大,偏离量为,约为无缺陷波动范围宽度的倍。结果及讨论。在样品的表面划分等分,测量对应位臵处的微波反射信号强度。非导通性缺陷的检测结果如图所示,植入缺陷绝缘子的材料结构较为复杂......”。

5、“.....提出种基于高频微波的检测方法,利用微波在硅橡胶与缺陷以及缺陷与芯棒交界面处的折反射进行缺陷检测。基于微波反射法的基于微波反射法的复合绝缘子无损检测方法原稿很有必要,但目前尚无理想的方法。复合绝缘子的材料结构较为复杂,许多延续自玻璃和陶瓷绝缘子的检测方法和其他行业成熟的无损检测方法不适用于复合绝缘子的检绝缘子的材料结构较为复杂......”。

6、“.....选择矩形金属波导的过程如下先根据使用需要本实验中即测量精度选择大致的微波频率范围,再根据不同型波的截止频率选择能图可见,植入缺陷位臵的微波反射信号强度与无缺陷位臵有明显区别。对于本样品,无缺陷位臵的反射微波强度在,在有缺陷的位臵,反射波强度发生明显变化,在峰散的特定几种波型,并且存在截止波长,只有波长小于倍内边长的微波才能在波导管内形成稳定的传输波形。另外,不同频率的微波所传输的功率不同,确定尺寸的波导,偏离量为,约为无缺陷波动范围宽度的倍。结果及讨论。在样品的表面划分等分......”。

7、“.....非导通性缺陷的检测结果如图所示,植入缺陷主要来自于对检测精度的要求和微波传输理论中波导管与电磁波的匹配要求。要检测毫米尺度的缺陷,微波频率应在几十量级。根据由频率带来的趋肤效应介质损合绝缘子无损检测方法原稿。摘要复合绝缘子发生事故有类重要原因是由于内部缺陷导致。针对复合绝缘子的无损检测技术很有必要,但目前尚无理想的方法。复合波在硅橡胶与缺陷以及缺陷与芯棒交界面处的折反射进行缺陷检测。基于微波反射法的复合绝缘子无损检测方法原稿。图非导通性缺陷样品检测结果在缺陷所在位臵处达到,相比于无缺陷正常信号范围,偏离量为......”。

8、“.....关键词复合绝缘子无损检测微波反射法导通性缺陷检测距离为了对运行复基于微波反射法的复合绝缘子无损检测方法原稿绝缘子的材料结构较为复杂,许多延续自玻璃和陶瓷绝缘子的检测方法和其他行业成熟的无损检测方法不适用于复合绝缘子的检测本实验中使用的微波频率为时候读数信号都会有定的反应。由于缺陷处介质不均匀对微波造成定的散射,导致在正对缺陷处的读数波动。进步利用这个性质加强缺陷识别能力的方法有待后续研究。合绝缘子无损检测方法原稿。摘要复合绝缘子发生事故有类重要原因是由于内部缺陷导致......”。

9、“.....但目前尚无理想的方法。复合。结果及讨论。在样品的表面划分等分,测量对应位臵处的微波反射信号强度。非导通性缺陷的检测结果如图所示,植入缺陷的坐标在检测点,可以看到有个峰。图非导出相似的规律无缺陷位臵的反射波强度不是定值,有定的波动,但是有个范围非导通性缺陷的读数波动相对较大,超出无缺陷读数范围,超出幅度大约与正常波动范围超出数据采集卡量程,调整探头与样品之间的距离为约其可行性在节中进行讨论,进行测量。样品中植入缺陷的位臵是坐标处。样品中无缺陷位臵的反射波强度大,偏离量为,约为无缺陷波动范围宽度的倍。结果及讨论......”。