有否无否无火花四溅，短路无火花四溅，短路有火花四溅，短路有从两端逐渐熔化到中间有否注我们此次测量以为限。假如熔体熔断时间超过，我们就把这种熔体标注为不能熔断。实验数据总结从上述图表中，我们可以得到随着电压上升，由原来的两个熔体增加到后面的四个熔体可以熔断。在状态下，只有两个快速熔断。原因是两个电阻只有几欧姆，电阻很小。我们根据公式我们可以得到公式我们从公式中就可以直接得出当电压定时，我们产生的热量只和电阻成反比。即电阻越小，产生的热量越大。则我们可以从数据表格中，看出在种类型的电压下，银含量的熔体均快速反应。因为这个两个熔体的电阻分别是和。是所以电阻中最小的两个。随着电压的升高时，当产生相同的热量，电阻也可以相对应的升高。所以，从表格中，可以看出增加了个了在后熔断的。这个反应速度改变与材料成分和熔点有关系。当电压增到，又出现了个可以熔断，原来的就变成了瞬间反应完成的。所以，我可以看出，任何数据的改变体现在电压和电阻方面。从电压上观察，固定个电阻改变电压大小看熔断时间的快慢。图熔断时间与电压关系注测量时间限定范围是，所以没有熔断的熔体，其反应时间以来测量。从上面的数据我们可以看出电压升高后，熔断的时间越短。从公式上论文，如果电阻定后，电流越大提供的能量就越多，所以我们看出电压越大速度越快。上图为能够熔断的含有玻璃粉杂质的银含量熔体。但是无杂质的银含量熔体的熔断时间随电压的增大并没有发生改变。图银含量在不同电压下的熔断时间图银含量在不痛电压下的熔断时间图银含量在不同电压下的熔断时间其实当和银含量的熔体接触电压时就瞬间熔断，仅凭肉眼是无法判断出来的。所以我们为了表示器熔断速度之迅速，就毫秒级来假设它的熔断时间。又因为的银含量多，电阻小于银含量的熔体，所以象征性的将的熔断时间设定略大于的熔断时间，以凸显两者在电阻方面的区别。结论至此，所有的实验过程已经结束了，我们需要从头思考下本次实验的设计思路。本次设计的题目是低电流电路熔断器研制。我们可以知道我们要研制出的产品是个熔断器，而我们的熔断器的类型是属于低电流范围内，即在个很低的电流下就能够熔断。而我们根据热量公式知道了如要产生很多热量就必须提高电流或者电阻的数值。但是由于我们研究的类型的是低电流范围内，所以我们能控制的变量只有电阻。我们提供的是稳定的直流电压，从另外个公式中得出如果电阻太大，有影响到热量产生。所以我们要在两者之间知道平衡选择出合适的电阻大小。我们从系列的实验，可以看到个满足以上条件的，就是银含量，玻璃粉含量，在温度下煅烧的熔体。在电压的工作电流是，该电流属于低电流范围之内，且能够熔断，虽然不是快速反应。但是能够完成了我们所设计的切指标。由于时间水平和经验上不足和有限，在制作规格上尚有不足的地方，需要加强改进和大规模的提高规格的精确度。同时时间上的限制使得设计的样本数不足，只能进行粗糙的验证，不能做到精确验证。对于本次毕业设计，我将其当成对我四年来的学业知识和动手能力的综合检验。通过本次毕业设计，我面的数据中，我们得到平均的。如果我们按照平均的数据，得到的理论电阻为第三次实验各项数据本次使用的规格是所以的含量为表第二次测得各项数据含量有无玻璃粉温度煅烧时间平均值注包含陶瓷片高度，其中陶瓷片从上面的数据中，我们得到平均的。如果我们按照平均的数据，得到的理论电阻为第四次实验各项数据本次使用的规格是所以的含量为表第二次测得各项数据含量有无玻璃粉温度煅烧时间有平均值注包含陶瓷片高度，其中陶瓷片玻璃粉含量极其稀少可以忽略不计。由于电阻超过万用表的测量范围，故不再测的具体数值。第五次实验各项数据本次使用的规格是所以的含量为表第五次测得各项数据含量有无玻璃粉温度煅烧时间无平均值注包含陶瓷片高度，其中陶瓷片从上面的数据中，我们得到平均的。如果我们按照平均的数据，得到的理论电阻为第六次实验各项数据本次使用的规格是所以的含量为表第二次测得各项数据含量有无玻璃粉温度煅烧时间无平均值注包含陶瓷片高度，其中陶瓷片从上面的数据中，我们得到平均的。如果我们按照平均的数据，得到的理论电阻为数据分析此次进行的实验所采用的数据方式是固定变量法，就是只设定个变量，而其他所有的变量均不改变。此种比较方法更能得到客观的数据以及精确的判断。我们分析数据的同时，可以提出合理的解释方案，这样可以使得数据更加具有说服力。本次实验所设定的变量主要有煅烧温度是否加入玻璃粉以及银粉的含量从温度上分析我们在的银含量的标准时，选择了三个温度点，分别是。然后我们可以从得到的结果中看到在时是在时加入了玻璃粉是在时大于。从这些数据，温度升高，电阻不断的升高。原因是银粉在加温过程中升华了，所以温度越高，升华的银粉量就越多。银粉的含量越少就会使得电阻变大。所以我们可以从得到的数据中，发现了这个规律。由于本次只是探索性的课题，并不能做到十分的精确，所以我们只选取三个量，而不会选取个量以上，所以在折线图上显示的非常粗糙。图熔体电阻和煅烧温度关系注对于的电阻，我们以作为封顶。从玻璃粉含量分析对于本次分析，我们可以观察第二次实验结论和第三次实验结论。我们可以看出，在第二次实验中，我们得到的电阻是，而在第三次试验中加了的时候，得到的电阻就直接飙升到。我们不难发现，仅仅是的玻璃粉，就使得双方面的电阻差距如此之大。所以我们提出合理的怀疑就是由于加入玻璃粉方面由于玻璃粉自己的颗粒很大，占了很大的空间，使得银粉的含量减少了，从而降低了电阻。从另方面自己就是个电阻很高的绝缘体。由于双方面的作用使得电阻降低了很多。图玻璃粉含量比较从银粉含量分析图电阻与银粉含量的关系在分析银粉含量时，我们选取第二次实验数据第五次实验数据第六次实验数据。我们看到这三次实验均无玻璃粉的加入，且变量只有银粉含量的改变。我们可以很清楚的看到，变化最明显的是含银和含银的区别。在含量是电阻是，含量时的电阻是，的含量时电阻是。从图中我们可以看到，在含量就有明显的变化，而且是质变。在到含量时的改变就不是特别大。所以，我们可以提出怀疑是金属导电能力的强弱体现在自由电子的否学到成部分并且其目的也只是为了分析运行测试目标程序，因此对于与此类似的暂时复制行为权利人不应当限制他人使用所以，对于复制行为内涵与外延的科学界定，有助于我们准确把握行为的内在本质和外在表现形式，方面对权利人的利益给予更强有力的保护，另方面又对些复制行为的使用提供广阔的空间，以符合知识产权平衡各方利益的根本宗旨•二完善著作权法中合理使用的内容合理使用制度是实现作品的著作权人的利益与作品的使用人的需要之间利益平衡的有效机制，体现了著作权法的公平平等等正义性价值的精髄。因此，不断完善合理使用制度的内容对于知识产权的价值体现显得尤其重要。目前国际上对于合理使用的立法模式有两种种是以美国为代表的因素主义模式，即美国著作权法第条对合理使用制度的规定另种是世界上大多数国家采用的规则主义模式，即在著作权法中明确界定哪些行为属于合理使用•我国釆取规则主义模式，在我国著作权法第条中规定了合理使用的十二种情形，对合理使用的规定也只是采取了简单列举的方式，难以穷尽所有的情形，也没有明确合理使用的内涵。因此在司法实践中太过抽象，难以灵活适用，也难以应对不断发展的新技术的出现所带来的各种复杂问题。例如就如前述分析我国著作权法中合理使用制度的缺陷时，就不能包含软件反向工程的李明镰欧盟版权指令述评•中国法学网学者专栏•合理使用问题。对于软件反向工程来说，合理使用是承认其合法性的最好的辩护理由因此，明确软件反向工程的合法地位，就要明确软件反向工程在立法中的合理使用。所以，建议我国著作权法对合理使用的规定采取两种立法模式相结合的作法，借鉴美国关于合理使用规定的相关经验，完善合理使用的规定，科学界定合理使用的内涵三在计算机软件保护条例中明确软件反向工程的合法地位计算机软件保护条例是我国为了应对软件产业的发展带来的各种问题而制定的针对计算机软件的专门立法•然而该专门立法并未对当今世界广泛存在的推动软件产业发展的反向工程的技术手段的合法性做出明确的规定，突显出了法律相对于经济社会发展的滞后性。虽然新出台的司法解释明确规定了反向工程的定义，垓补了法律空白，但是对于软件反向工程的系列问题未能明确规定。因此，有必要在有关计算机软件的专门立法中明确规定，国外的相关立法值得我们借鉴•明确以非商业性目的使用的反向工程合法，即为了了解程序的思想和原则而对之进行观察分析测试等行为，无需经过权利人的同意。二明确以商业性目的实施反向工程的行为在定条件下是合法的•对软件反向工程的合法性进行必要的限制，主要包括对实施软件反向工程的主体限制，即必须是通过合法的方式取得软件产品的合法持有人对实施软件反向工程的目的限制，即必须是为了获取必要的兼容性信息为主要目的对实施软件反向工程的结果限制，即通过软件发展过程所创造的作品应当是原创性作品，不得与原作品实质性相似。四完善技术措施的保护与限制我国关于技术措施保护的立法可谓浅尝辄止，表现出了技术措施的保护与传统版权制度的冲突，包括技术措施的保护与合理使用的关系尚未完全廓洧厘明，特别有否无否无火花四溅，短路无火花四溅，短路有火花四溅，短路有从两端逐渐熔化到中间有否注我们此次测量以为限。假如熔体熔断时间超过，我们就把这种熔体标注为不能熔断。实验数据总结从上述图表中，我们可以得到随着电压上升，由原来的两个熔体增加到后面的四个熔体可以熔断。在状态下，只有两个快速熔断。原因是两个电阻只有几欧姆，电阻很小。我们根据公式我们可以得到公式我们从公式中就可以直接得出当电压定时，我们产生的热量只和电阻成反比。即电阻越小，产生的热量越大。则我们可以从数据表格中，看出在种类型的电压下，银含量的熔体均快速反应。因为这个两个熔体的电阻分别是和。是所以电阻中最小的两个。随着电压的升高时，当产生相同的热量，电阻也可以相对应的升高。所以，从表格中，可以看出增加了个了在后熔断的。这个反应速度改变与材料成分和熔点有关系。当电压增到，又出现了个可以熔断，原来的就变成了瞬间反应完成的。所以，我可以看出，任何数据的改变体现在电压和电阻方面。从电压上观察，固定个电阻改变电压大小看熔断时间的快慢。图熔断时间与电压关系注测量时间限定范围是，所以没有熔断的熔体，其反应时间以来测量。从上面的数据我们可以看出电压升高后，熔断的时间越短。从公式上论文，如果电阻定后，电流越大提供的能量就越多，所以我们看出电压越大速度越快。上图为能够熔断的含有玻璃粉杂质的银含量熔体。但是无杂质的银含量熔体的熔断时间随电压的增大并没有发生改变。图银含量在不同电压下的熔断时间图银含量在不痛电压下的熔断时间图银含量在不同电压下的熔断时间其实当和银含量的熔体接触电压时就瞬间熔断，仅凭肉眼是无法判断出来的。所以我们为了表示器熔断速度之迅速，就毫秒级来假设它的熔断时间。又因为的银含量多，电阻小于银含量的熔体，所以象征性的将的熔断时间设定略大于的熔断时间，以凸显两者在电阻方面的区别。结论至此，所有的实验过程已经结束了，我们需要从头思考下本次实验的设计思路。本次设计的题目是低电流电路熔断器研制。我们可以知道我们要研制出的产品是个熔断器，而我们的熔断器的类型是属于低电流范围内，即在个很低的电流下就能够熔断。而我们根据热量公式知道了如要产生很多热量就必须提高电流或者电阻的数值。但是由于我们研究的类型的是低电流范围内，所以我们能控制的变量只有电阻。我们提供的是稳定的直流电压，从另外个公式中得出如果电阻太大，有影响到热量产生。所以我们要在两者之间知道平衡选择出合适的电阻大小。我们从系列的实验，可以看到个满足以上条件的，就是银含量，玻璃粉含量，在温度下煅烧的熔体。在电压的工作电流是，该电流属于低电流范围之内，且能够熔断，虽然不是快速反应。但是能够完成了我们所设计的切指标。由于时间水平和经验上不足和有限，在制作规格上尚有不足的地方，需要加强改进和大规模的提高规格的精确度。同时时间上的限制使得设计的样本数不足，只能进行粗糙的验证，不能做到精确验证。对于本次毕业设计，我将其当成对我四年来的学业知识和动手能力的综合检验。通过本次毕业设计，我